军事：美国再次逮捕中国籍工程师 指控其窃取F35机密

[F35,中国,战机]：

围绕F-22和F-35，美国多次控告华裔或中国籍人士“窃密”

　　近年来，美国已经多次逮捕华裔或者中国籍工程师、科学家和商人，指控他们涉嫌窃取美国军事机密。本周二，又一起类似案件被公开，这次被捕的是一名中国籍工程师，他曾受雇于普拉特&惠特尼公司，美国检察官指控他试图携带一种钛材料的相关数据返回中国。

　　美《防务周刊》今日报道，美国康涅狄格州地区检察院称，他们逮捕了一名中国籍人士，他被控试图偷偷携带敏感资料出境，这些信息与美国空军一个项目中使用的钛材料有关，很可能与F-35战斗机有关。

　　被捕的中国籍工程师名叫余隆(音译)，现年36岁，曾居住在纽黑文市，持有美国绿卡，他在11月7日被捕。但直到本周二检察院公布相关消息，没有消息传出。他被控告“跨国运输，传输和转移以偷窃、侵占和诈骗方式获得的商业资料。”

　　事情从今年8月说起，当时隆在准备乘坐飞机返回中国，起诉书说，他因为被发现“携带超过1万美元未申报的现钞，在中国成立的一家新公司的注册文件，以及一份大部分完成的投给中国一个国有的航空航天研究中心工作的简历，”被海关截停。